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測(cè)量厚度從15nm到100um的膜厚測(cè)量系統(tǒng) SR20塑料測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量儀可測(cè)15nm納米 測(cè)量原理:基于光的干涉原理，通過分析從薄膜表面反射和從薄膜/基底界面反射的光的干涉圖案來計(jì)算薄膜厚度。 非接觸測(cè)量:不需要與樣品接觸，不會(huì)對(duì)樣品造成損害，特別適合于測(cè)量軟質(zhì)材料或表面易受損的樣品。 高精度:提供非常精確的測(cè)量結(jié)果，精度可以達(dá)到納米級(jí)別。
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